平均粒度仪是一种利用空气透过法来测量粉末的平均粒径的仪器。是利用空气泵打出一定量的气体，通过一定的气体流量流经粉末层所有颗粒表面，最后由U形压力计及流量阻力系数，而在仪器上直接显示粉料的平均粒径来。广泛应用于磁性材料粉末，硬质合金粉末、陶瓷建材粉末、难熔金属粉末、荧光粉、国防工业粉末，另外测定速度快、重复性好是该仪器的最大特点。
平均粒度仪是一种利用空气透过法来测量粉末的平均粒径的仪器。我国最早研制该仪器的企业是丹东市热工仪表厂，其于1977年研制成功并投入生产。主要研制人是罗锡亨高级工程师，1993年成立了丹东市环境分析仪器厂，将过去的WLP-202平均粒度测定仪改进为WLP-205平均粒度测定仪，在1999年时增加了YXQ-100压力校正器升级为WLP-208平均粒度测定仪，后期转为丹东华宇仪器有限公司。
Fisher Sub-Sieve Sizer 仪器最早于1943年在美国fisher公司生产，直到2008年该美国fisher公司停止生产该仪器。国内市场生产的平均粒度仪主要是丹东华宇仪器有限公司的产品，主要型号有WLP-202、205、208、216等等，在2007年丹东华宇仪器有限公司针对于国外用户需要又增加了WLP-205A平均粒度测定仪、WLP-208A平均粒度测定仪，这二款都扩大了测量范围。
应用范围
由于是空气透过法，对于粉末有结团、结块的不存在分散的问题尤为适用。
广泛应用于磁性材料粉末，硬质合金粉末、陶瓷建材粉末、难熔金属粉末、荧光粉、国防工业粉末，另外测定速度快、重复性好是该仪器的最大特点。
仪器原理
是利用空气泵打出一定量的气体，通过一定的气体流量流经粉末层所有颗粒表面，最后由U形压力计及流量阻力系数，而在仪器上直接显示粉料的平均粒径来。
