iEDX-150WT镀层厚度分析仪专业用于PCB镀层厚度，金属电镀镀层分析；
可同时分析镀层中的合金成分比列。技术指标：>多镀层，1～4层
>测试精度：0.01 um
>多次测量重复性误差<0.1％
>元素分析范围从铝(Al)到铀(U)
>测量时间：10-60秒
>Si-PIN探测器，能量分辨率为149电子伏特
>微焦X射线管50KV/1mA，钨靶，焦斑尺寸 75um, 寿命大于3万小时
>7个准直器及6个滤光片自动切换
>XYZ三维移动平台，荷载可达5公斤
>高清CCD摄像头，精准监控位置
>多变量非线性去卷积曲线拟合
>高性能FP/MLSQ分析
>平台尺寸 700x580x25 mm
>平台移动范围 300(X)x300(Y)x25(Z)mm
