M1 MISTRAL镀层测厚仪

M1 MISTRAL镀层测厚仪

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M1 MISTRAL 是一款紧凑型的台式 μ-XRF光谱仪,用于分析块状材料和涂层。它的操作速度快、极具成本效益, 可以提供与材料元素成分有关的准确信息。

测定镀层样品厚度及成分例如

Zn-Fe、Ag-Cu、Au-Ni-Cu、Sn-Ni-Cu、Cr-Ni-Cu、Au-Pd-Ni-Cu


珠宝及合金分析:

M1 MISTRA是珠宝、硬币及贵金属的理想分析工具。所有珠宝合金、铂族金属及银制品。不到1分钟就可以确定其准确成分。分析结果可以用百分含量或K(开)表示。



该仪器具备高空间分辨率,光斑大小低至 100 微米。它可以分析任意形状的样品,例如最复杂的珠宝,而无需进一步的制备,更重要的是,它的分析是无损的。支持的样品尺寸最大可达 100x100x100 立方毫米。带有交叉十字线的视频显微镜,可以精确定位到您要测量的位置。电动 Z 型取样台允许快速聚焦。可选的 X-Y-Z 取样台甚至可以提供更大的舒适性。

M1 MISTRAL 配备了高亮度微焦点 X 射线管,确保出色的激发测量光斑,产生高荧光效应。凭借功能强大、易于使用的 XSpect 软件套件,该仪器可交付准确的量化结果,而不论是分析块状材料还是最复杂的多层结构。

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