TESCAN S8000超高分辨场发射扫描电镜

TESCAN S8000超高分辨场发射扫描电镜

泰思肯
上海
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全新设计的S8000超高分辨场发射扫描电镜可以提供无与伦比的图像质量,具有强大的扩展分析能力,能够满足现今工业研发和科研的所有需求,不仅适用于高端的纳米分析应用,也给操作者带来舒适、高效的使用体验。

S8000 FE-SEM的优点:新一代镜筒内电子加速、减速技术,保证了复杂样品的低电压高分辨观测能力首次配置的静电-电磁复合物镜,物镜无磁场外泄,实现磁性样品高分辨成像及分析配置4个新一代探测器,可实现9种图像观测,对样品信息的采集更加全面配置大型样品室,有超过20个扩展接口,为原位观测、分析创造了良好的工作环境可以配置TESCAN自有或第三方的多种扩展分析附件,如EDS、EBSD、CL、EBL,并独家实现与Raman联用


创新的电子光学镜筒,使电镜拥有更加出色的超高分辨率


TESCAN S8000配置了最新的BrightBeam?镜筒,实现了无磁场超高分辨成像,可以最大化的实现各种分析,包括磁性样品的分析。新型镜筒中的电子光路设计增强了低能量电子成像分辨率,特别适合对电子束敏感样品和不导电样品的分析。

另外,EquiPower?透镜技术可有效减少能量损耗并保证电子镜筒的稳定性。


BrightBeam?电子光学镜筒及探测器系统

(A)Axial detect (In-Beam)

(B)Multidetect (In-Beam)

(C)E-T detect (In-Chamber)

(D)Retractable BSE (In-Chamber)


配备最新的多种探测器,更好的表面灵敏度和对比度

S8000可配置最新的多种探测器,包括透镜内Axial detect 以及 Multidetect,可选择不同角度和不同能量来收集信号,体现更多种类的信息,同时获得更好的表面灵敏度和对比度。

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